

LT sandėlis

Aprašymas:
Trys viename: skaitmeninis osciloskopas, komponentų testeris, signalų generatorius.
Osciloskopas: diskretizavimo geba: 10MSa/s, dažnių juostos plotis 500kHz.
Trigerio funkcijos: vienkartinis, įprastas, automatinis.
Tranzistorių testavimas: NPN, PNP, FET, diodai, tranzistorių testavimas jų neišlituojant.
Komponentų analizė: išvadų nustatymas, NEC protokolas.
MOS bandymo režimas: nustato įvairius tranzistorių tipus.
Kiti režimai: tęstinumas, įtampa, PWM, temperatūros jutikliai.
Bangos formos generatorius: sinusas, kvadratas, impulsas, trikampis, pjūklas, nuolatinė srovė.
Pagrindiniai parametrai:
Ekranas: 2,4 colio TFT spalvotas ekranas, LED apšvietimas
Maitinimo įtampa: įkraunama ličio baterija
Įkrovimas: USB Type-C, 5V
Testerio matmenys: 79*103*31mm
Parametrai:
Osciloskopas
| Real-time sample rate | 10Msa/s | Analog Bandwidth | 500Khz |
| Input resistance | 1MΩ | Coupling method | AC/DC |
| Test voltage range | 400V | Vertical Sensitivity (x1) | 10mV-10V |
| Horizontal time base range | 1us-10s | Trigger mode | Auto / Normal / Single |
| Trigger type | Rising edge / Falling edge | Waveform Freeze | Yes |
| Automatic measurement | Yes |
Signalų generatorius
| Sine wave | 1-100KHz/0-3.3V/50% | Square wave | 1-100KHz/3.3V/50% |
| Pulse wave | 1-100KHz/3.3V/0-100% | Triangle wave | 1-100KHz/0-3.3V/50% |
| Ramp | 1-100KHz/0-3.3V/0-100% | DC | 0-3.3V |
Komponentų testeris
| Triodes | β is greater than 10 and less than 600 | Diodes | Forward voltage drop <4.5V |
| Reglulated diode | 0.01~4.5V (1-2-3 test area) 0.01~32V (K-A-A test area) | MOSFET | JFET,IGBT,MOSFET |
| SCRs TRIAC | Turn-on voltage <5V, gate Pole trigger current <6mA | Capacitor | 25pF~100mF |
| Resistor | 0.01Ω~50MΩ | Inductor | 10uH~1000uH |
| Battery | 0.1~4.5V | Input voltage | Input voltage |
| DS18B20 | 0-85℃ | DHT1 | 0-60℃/5-95% |
| Infrared remote decoding | NEC protocol infrared code |